Nikon SMZ800N Stereomikroskop

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Das Nikon SMZ800N bietet, durch die Erweiterung der Vergrößerung auf ein 8:1-Zoomverhältnis (1 bis 8-fach) neben einem hochauflösenden Bild, auch eine einfache Bedienung.
Ein Mikroskop für die Materialwissenschaft und die Industrie. Für die Desktop- oder Maschinenintegration. QA-Funktionen für Routine- und kritische Anwendungen möglich.

Beschreibung

Fantastische Bildschärfe über den gesamten Vergrößerungsbereich

Ideal für Studien zur Fehleranalyse, zur Bestimmung von Fehlerursachen und zur Überprüfung von Lösungen. Oberflächenuntersuchungen von Bauteilen, Risserkennung, Korrosionsstudien, Verbundwerkstoffe, Textilien, Teile aus Werkzeugmaschinen für kritische Komponenten in der Luft- und Raumfahrt oder Bau- und Konstruktionsmaterialien lassen sich problemlos durchführen.

Bestes in seiner Klasse: optischer 8:1-Zoom

Mit einem optischen Zoomverhältnis von 8:1 (1 bis 8-fach) übertrifft das SMZ800N den Vergrößerungsbereich früherer Modelle und ist das beste Gerät in seiner Klasse.

Vorteile

  • Modulares Mikroskopsystem mit Zubehör für verschiedene Beobachtungsanforderungen und anspruchsvolle Aufgaben
  • Die zahlreichen Funktionen der Zubehörkomponenten, die für Nikons Forschungs-Stereomikroskope verfügbar sind, sind auch für das SMZ800N erhältlich, einschließlich der Digital Sight Kameras.
  • Dank des großen Sehfelds muss das Bauteil oder die Probe beim Scannen eines größeren Bereichs mit hoher Vergrößerung nicht verschoben werden
  • Erstaunlich klare, helle Bilder mit minimaler chromatischer Aberration über den gesamten erweiterten Zoombereich dank der außergewöhnlichen „Plan Apo WF“ und „ED plan WF“ Objektive
  • Ergonomische Vorteile ergeben sich aus der Gestaltung der Bedienelemente und der Haltung des Bedieners
  • Die Positionierung der Bedienelemente und die im Winkel verstellbaren Beobachtungstuben ermöglichen ein komfortables, ermüdungsfreies Arbeiten

Mikroskopanwendungen

  • Anspruchsvolle Anwendungen der Materialwissenschaft und allgemeiner Einsatz in der Industrie
  • Forschung und Entwicklung im Bereich moderner Verbundwerkstoffe
  • Routinemäßige oder kritische Anwendungen zur Qualitätskontrolle in der Produktion
  • Fehleranalyse zur Bestimmung oder Vorhersage von Fehlern sowie Verifizierung von Lösungen
  • Oberflächenprüfung an Komponenten, einschließlich Risserkennung, Korrosionsuntersuchungen
  • Gängige Verbundwerkstoffe der Luft- und Raumfahrt, Stoffe / Textilien, Bau- und Konstruktionsstoffe
  • Werkzeugmaschinenprüfung
  • Optoelektronische Bauelemente
  • Mikroelektronik, Mikrosysteme (Micro-Electro-Mechanical Systems, MEMS)
  • Mobiltelefontechnologien, Rasierapparate und Uhren
  • Medizintechnik, einschließlich Implantate, Prothesen, intravaskuläre Systeme
  • Lackier- und Beschichtungstechnik
  • Restauration von Kunstgegenständen und Antiquitäten, Forschung und Konservierung

Technische Daten

Technische Daten

Optische Daten
Optisches System Parallel-Optik-Typ (Vergrößerungs-Typ)
Zoomverhältnis 8:1
Zoombereich 1 u2013 8x (1/2/3/4/6/8x stoppt)
Gesamtvergrößerung
5 u2013 480x (Abhängig vom Okular und den Objektiven) (koaxiale Auflichtbeleuchtung: 22,5 u2013 540x)
Tuben Okular-Neigungswinkel: 20u00b0 (P-B Binokulartubus) / 15u00b0 (P-TL100 Trinokulartubus) / 0u00b0-30u00b0 (P-TERG50 Trinokularer Kipptubus, P-TERG50 Trinokularer Kipptubus)
Okulare Okular-Neigungswinkel: 20u00b0 (P-B Binokulartubus) / 15u00b0 (P-TL100 Trinokulartubus) / 0u00b0-30u00b0 (P-TERG50 Trinokularer Kipptubus, P-TERG50 Trinokularer Kipptubus)
Okulare C-W10xB (F.N. 22), C-W15x (F.N. 16), C-W20x (F.N. 12,5), C-W30x (F.N. 7)
Objektive Plan Apo 0,5x/WF, Plan Apo 0,75x/WF, Plan Apo 1x/WF, ED Plan 1,5x/WF, ED Plan 2x/WF, Plan 1x, ED Plan 0,75x, Achro 0,5x
Arbeitsabstand 78 mm
Gewicht (ca.) G-AL 0,5x (W.D. 211 mm), G-AL 0,7x (Arbeitsabstand 150 mm),
G-AL 1,5x (W.D. 61 mm), G-AL 2x (Arbeitsabstand 43,5 mm)

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