Nikon SMZ745T Stereomikroskop

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Das Nikon Stereomikroskop SMZ745T verfügt über ein hervorragendes Zoomverhältnis von 7,5:1 und standardmäßig über einen großen Arbeitsabstand von 115 mm.
Das SMZ745T ermöglicht sowohl Stereobetrachtung als auch digitale Bildgebung. Ein integrierter Kameraanschluss mit einem 0, 55-fachen C-Mount ist im Lieferumfang enthalten.
Es eignet sich sowohl für die Materialforschung als auch für Anwendungen in der Fertigung.
Die schimmelabweisende Bauweise ermöglicht den Einsatz des Mikroskops in Umgebungen, in denen die Temperatur und Luftfeuchtigkeit sehr hoch sind.

Beschreibung

Stereomikroskop mit beeindruckendem Zoomverhältnis von 7,5:1

Durch die Optimierung der für die SMZ745-Reihe verwendeten Greenough-Optik konnte Nikon ein Zoomverhältnis von 7,5:1 und somit einen Vergrößerungsbereich von insgesamt 3,35x bis 300x realisieren. Durch die Verwendung eines Totalreflexionsprismas können mit dem Stereomikroskop SMZ745T bei allen Vergrößerungsstufen helle und kontrastreiche Bilder erfasst werden.

Großer Arbeitsabstand mit 115 mm

Neben einem hohen Zoomverhältnis und der erstklassigen Vergrößerung bietet das SMZ745T einen beeindruckenden Standard-Arbeitsabstand von 115 mm. Damit steht ausreichend Platz für mechanische Baugruppen oder die einfache Bearbeitung von Proben oder Komponenten unter der Frontlinse zur Verfügung.

Ein Höchstmaß an Ergonomie

Das SMZ745T verfügt über eine schlanke Bauform, die dem Anwender ein sehr komfortables Arbeiten ermöglicht. Der Zoomknopf ist mit einem Klick-Stopp für jede Vergrößerungsstufe des Zoombereichs ausgestattet.

Die robuste, langlebige Ausführung eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen und Umgebungen

Das SMZ745T bietet einen effektiven ESD-Schutz, um Proben und Baugruppen vor Beschädigung durch elektrostatische Entladungen zu schützen. Dank der schimmelabweisenden Beschichtung im Inneren des Objektivkörpers kann das Stereomikroskop auch in Umgebungen verwendet werden, in denen hohe Temperaturen und hohe Luftfeuchtigkeit herrschen.

Vorteile

  • Modulares Mikroskopsystem mit Zubehör für verschiedene Beobachtungsanforderungen und anspruchsvolle Aufgaben.

Mikroskopanwendungen

  • Anspruchsvolle Anwendungen der Materialwissenschaft und allgemeiner Einsatz in der Industrie
  • Forschung und Entwicklung im Bereich moderner Verbundwerkstoffe
  • Routinemäßige oder kritische Anwendungen zur Qualitätskontrolle in der Produktion
  • Fehleranalyse zur Bestimmung oder Vorhersage von Fehlern sowie Verifizierung von Lösungen
  • Oberflächenprüfung an Komponenten, einschließlich Risserkennung, Korrosionsuntersuchungen
  • Gängige Verbundwerkstoffe der Luft- und Raumfahrt, Stoffe / Textilien, Bau- und Konstruktionsstoffe
  • Werkzeugmaschinenprüfung
  • Optoelektronische Bauelemente
  • Mikroelektronik, Mikrosysteme (Micro-Electro-Mechanical Systems, MEMS)
  • Mobiltelefontechnologien, Rasierapparate und Uhren
  • Medizintechnik, einschließlich Implantate, Prothesen, intravaskuläre Systeme
  • Lackier- und Beschichtungstechnik
  • Restauration von Kunstgegenständen und Antiquitäten, Forschung und Konservierung

Technische Daten

Technische Daten

Optische Daten
Optisches System Greenough
Gesamtvergrößerung 3,35-300x, je nach verwendetem Okular und Hilfsobjektiv
Vertikaltubus Eingebautes 0,55-fach C-Mount-Vergrößerungsobjektiv (F.N. 11), kompatibel mit 2/3“ oder kleinerem CCD
Okulartubus Fest installiert
Einblickwinkel 45°
Einstellbarer Pupillenabstand 52-75 mm
Okulare (mit Dioptrieneinstellung) C-W 10xB (F.N. 22), C-W 15x (F.N. 16), C-W 20x (F.N. 12,5), C-W 30x (F.N. 7)
Zoomverhältnis 7,5:1 (ca.)
Zoombereich 0.67-5x
Hilfsobjektive G-AL 0,5x (W.D. 211 mm), G-AL 0,7x (Arbeitsabstand 150 mm),
G-AL 1,5x (W.D. 61 mm), G-AL 2x (Arbeitsabstand 43,5 mm)
Arbeitsabstand 115 mm
ESD-Schutz Antistatisches Kunststoffgehäuse

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